X射线荧光
技术简介
X射线流频样本暴露于X射线中,该波段部分能量被样本原子吸收,这些原子本身可发布二级(流频)X射线(每个元素独有特征),XRF测量二级X射线强度和特征能量/波长,可提供测试材料的定性和定量分析
当前仪表 :
AAC当前XRF为Bruker-AXSS4先锋X射线光谱有108位采样变换器并允许液样本对固态(B-U)和液态样本进行元素分析spectraPlus软件操作分光计
应用程序
XRF常用方法对地质、环境、生物和工业材料进行定性和定量化学分析技术应用范围广,富集度从重量%到百万分量
精确量化分析需要基于一系列标准标定,反映矩阵(样本类型)和拟分析材料中元素集中范围半量化分析也可以使用,即X射线强度与一系列样本类型标准库比较虽然不如量化分析精确,但它是确定未知样本中元素相对丰度的极佳方法。
样本需求
样本通常需要粉碎成细粉,然后或装嵌成玻璃盘(主要元素)或绑入粒子(微量元素和半量化分析)。
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