高级分析中心
原子力显微镜
技术简介
原子力显微镜是一种高分辨率扫描显微镜,能成像并测量纳米标本以至agstrom尺度精密探针用扫描标本表面试探端与表面交互生成力记录为罐头偏转使用各种扫描模式和小技巧设计可检测样本多不同属性三维地形映射、相位成像、机械性磁电特性
工具化
当前AFM系统是一个NT-MDTNTEGRA系统,高分辨率低噪扫描探针显微镜,综合分析软件供AFM应用范围使用ysitronTriboscle纳米缩接合AFM测量机械性能
应用
AFM技术
空液中:aFM(接触+半接触)/横向力显微镜/相位成像/强制变换/对接力成像/对接线映射:aFM
单空磁力显微镜/静电力显微镜/扫描电容显微镜/开文Probe显微镜/传播抗药性成像/线程摄影:AFM
纳米代号技术
测量机械性能,如硬性、弹性模数、骨折强度、斜率和恒定抓取阻抗力、摩擦系数、穿戴和薄膜间粘合
样本需求
AFM最大扫描高度为10微米,因此样本必须极平面-至少在理想扫描区内-才能成像
最理想的样本不大于1x1cm3
拟通过TriboScopeNanodister分析的样本必须用薄偶层超级胶合嵌入钢基底,高度、广度或深度不大于1cm
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